10月11日消息，NI将使用其NI Global Operations平台（简称GO平台）在边缘提供实时半导体分析解决方案。这种新的基础设施和控制为平台用户、NI甚至第三方开发的更高级和定制应用打开了大门。

NI GO生态系统内新增了一个支持层，并与领先的ATE供应商Teradyne进行初步集成。

半导体测试操作的质量、产量、吞吐量和功能需求的提高激发了人们对开发更好、响应速度更快的测试控制的兴趣。为了解决这个问题，新的NI全球运营实时应用支持层将现有的GO平台功能扩展到安全、低延迟的测试系统服务器，使分析模型可以与测试执行同步运行。

NI测试和分析软件副总裁兼总经理Rudy Sengupta解释道：“半导体行业的所有趋势都表明测试更加重要。为了跟上时代的步伐，我们的客户需要更快地做出测试决策，现在这意味着与测试本身保持一致。为了使这一点可行，我们了解生态系统协作的价值，并将我们新的实时支持层和ATE合作伙伴关系视为价值的关键拐点，我们可以从测试分析中获得。”

新的支持层通过添加对ATE测试车间平台的集成支持来增强NI全球运营的开放架构和强大的分析功能。

其本地数据、安全和通信协议与NIGO后端分析相结合，为半导体测试的实时控制创建了完整且可信的解决方案。

与泰瑞达合作，意味着他们的测试仪足迹将可以使用这些新功能，此外，开放式架构将允许在未来支持任何和所有ATE供应商和平台，并将有更多计划的公告。

通过直接与ATE供应商合作，NI可以确保围绕这些联合解决方案提供长期的支持、协作和创新。这些关系旨在实现组合、集成的架构，更好地利用ATE服务器，为半导体测试优化提供新的可能性。由于ATE供应商增加了投资，通过安全、集成的边缘解决方案支持其测试平台，因此现在这成为可能。

Teradyne Archimedes分析解决方案将数据分析、人工智能和机器学习等技术集成到测试解决方案中。其开放式架构支持领先的分析解决方案模型，并支持安全的实时数据流，测试时间影响几乎为零，从而提高质量、提高产量并减少测试仪停机时间。

Teradyne半导体测试营销副总裁Regan Mills表示：“Teradyne很高兴能与NI合作，为其全球运营平台的高级分析提供支持，”高级学习模型与安全真实的数据相结合，对于提供优质的最终产品和支持新兴技术至关重要。NI的Go平台和Teradyne的阿基米德提供了一个端对端的解决方案，可在安全且受保护的环境中提供实时数据生命周期管理。“

作为Teradyne Archimedes生态系统的一成员，NI GO分析模型和应用获得的计算资源可比更接近测试活动，这意味着数据驱动的操作和控制可以在测试执行期间触发。此外，这些型号受益于ATE服务器原生的安全协议，这意味着所有数据和IP都得到了充分的保护。因此，现有的解决方案（如重新分箱或DPAT）可以实时更具影响力，同时也为下一代和DIY解决方案打开了大门，这些解决方案从未想过，例如漂移检测。